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產(chǎn)品分類PRODUCT CLASSIFICATION

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產(chǎn)品展示
  • OPTM 系列顯微分光膜厚儀

    OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對反射率進行測量,可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上,能達到1秒/點的高速測量,并且搭載了即使是初次使用的用戶,也可容易出分析光學常數(shù)的軟件。

    型號:
    更新日期:2024-09-26
  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

    ELSZ series的高級機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(Zeta Potential,ζ-電位)和粒徑測定之外,還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能,為了提高粒度分布的分離能力,采用了多角度測定。另外,也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池,通過新開發(fā)的對應高鹽濃度的涂層,可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。

    型號:
    更新日期:2024-09-26
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